三次元探針

三次元探針是一種接觸式量測元件，可整合至影像量測儀或三次元量測儀中，進行 X、Y、Z 三軸方向的高精度尺寸量測。其特點在於能夠量測光學無法取得的內部結構、孔位深度或側邊輪廓，尤其適用於高落差、複雜幾何形狀或反光材質的工件。