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2D-3D量測儀
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奈米白光干涉顯微檢測儀4
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  • 奈米白光干涉顯微儀

    SWIM系列掃描白光干涉顯微檢測儀結合相移垂直掃描的專利技術與顯微光干涉技術，不需要複雜光路調整程序，即可在非接觸、無破壞、普通大氣環境下完成3D奈米深度的表面檢測分析，不僅提供3D表面形狀和表面紋理的分析，更可提供鏡面表面的奈米級粗糙度和台階高度分析， 並追溯至ISO國際規範。